2017-05-15
近年來，隨著IC芯片在眾多行業(yè)中的應用越來越廣泛，市場對芯片測試座設備（IC testing socket）的需求也越來越大。在這一市場背景下，為了讓芯片測試設備更好地運轉(zhuǎn)，歐姆龍電子部品事業(yè)公司特別研發(fā)推出了一款能夠創(chuàng)出傳統(tǒng)的微型測試探針——歐姆龍XP3B，以奇特的結構設計、特殊的材質(zhì)工藝以及豐富多樣的品類選擇，為芯片測試座行業(yè)的發(fā)展做出了突出貢獻。
獨特結構設計 實現(xiàn)探針產(chǎn)品行業(yè)革新
芯片測試座是一種用來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的標準測試設備，可用于檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡的開、短路情況，從而保證器件在惡劣的環(huán)境條件下也能實現(xiàn)設計規(guī)格書所規(guī)定的功能及性能指標。
作為芯片測試座中的關鍵部件，探針則是電測試的接觸媒介，是一種高端精密型電子元器件，一般廠家通常都選擇SK4材料，內(nèi)部有平均壽命3萬~100萬次的高性能彈簧。
而歐姆龍電子部品事業(yè)公司新推出的這款XP3B微型測試探針，則制造出了傳統(tǒng)探針的彈簧內(nèi)置型設計，研發(fā)設計出了新的彈簧外置型設計，包含三種部件(針桿 A, B 和 彈簧)，并通過針桿多個接觸點契合形成接觸穩(wěn)定的柱塞結構，同步穩(wěn)固阻抗性能，準確有效地完成數(shù)據(jù)采集。
相比傳統(tǒng)彈簧內(nèi)置型設計，XP3B微型測試探針的創(chuàng)新設計，不但大幅提高了產(chǎn)品的性能，還大大提高了產(chǎn)品的使用壽命，實現(xiàn)了探針產(chǎn)品的行業(yè)革新。
電鑄生產(chǎn)工藝 使用壽命突破一百萬次
除了獨特的結構設計，XP3B微型測試探針還采用了特殊的材質(zhì)選擇與電鑄生產(chǎn)工藝，大大提升了產(chǎn)品的使用壽命。
與過去的沖壓加工相比，歐姆龍的電鍍生產(chǎn)工藝實現(xiàn)了對產(chǎn)品的微細加工。在沖壓加工中，沖壓加工的沖壓寬度與板厚大致相同、彎曲加工的曲率半徑是板厚的2倍左右，但如果使用電鑄技術，沖壓寬度可減至板厚的1/3，曲率半徑不論板厚如何，可減小至40μm。
得益于這種特殊的材質(zhì)選擇與先進的電鍍生產(chǎn)工藝，XP3B微型測試探針不僅具有更穩(wěn)定的性能和更長的壽命，而電鑄加工打造平滑的端面，則實現(xiàn)了產(chǎn)品的高耐久性。在模擬測試環(huán)境的測試中，XP3B微型測試探針在100萬次測試后仍保持穩(wěn)定的CR值。
豐富的產(chǎn)品線 滿足各品類IC測試需求
作為一家全球知名的自動化控制及電子設備制造廠商，創(chuàng)立于1933年的歐姆龍株式會社，不僅掌握著世界首位的傳感與控制核心技術，還成功贏得了全球消費者的信賴。
而公司旗下的歐姆龍電子部品事業(yè)公司則是一家世界首列電子元器件制造商，依托總公司的雄厚的技術實力與強大后盾，歐姆龍電子部品事業(yè)公司旗下的產(chǎn)品更具多樣性和專業(yè)性。
豐富的產(chǎn)品線以及基本不受限的生產(chǎn)工藝，讓這款微型測試探針的尺寸型號更全面，還可接受自由化的客戶定制形狀，可滿足各品類IC測試需求，從而更好地服務于IC測試座行業(yè)。
在每一家芯片封測廠中, 測試探針都在以日以萬計的速度在消耗著，更穩(wěn)定壽命更長的測試探針無疑可以為企業(yè)帶來非常大的附加值，提升企業(yè)的市場競爭力，為社會的發(fā)展進步做出貢獻。
